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在工業生產和科學研究中，對材料表面鍍層或薄膜厚度的精確測量是確保產品質量和性能的關鍵環節。日本電測（NIPPON DENSHOKU）的熒光X射線膜厚儀EX-851以其先進的技術和性能，為多個行業提供了高效、精準的測量解決方案。
DENSOKU EX-851熒光X射線膜厚儀的技術特性使其能夠適應多種行業和場景的測量需求。
電子與半導體制造是該設備的核心應用領域之一。在半導體制造過程中，EX-851可用于檢測晶圓的表面質量、光刻膠的厚度等，確保半導體器件的制造精度。 它還能測量電子元件的外觀和性能，如電容、電阻等元件的外觀缺陷。
汽車工業同樣受益于這款儀器。它能夠使用光學測量設備檢測汽車零部件的表面質量、材料性能等，確保零部件符合設計要求。
在金屬加工與電鍍行業，EX-851表現出色。它可以進行單層鍍層測量、兩層鍍層測量、三層鍍層測量、合金膜厚成分比同時測量以及化學鍍鎳測量。 特別是對于鉻（Cr）、鎳（Ni）等元素的測量，其重復精度顯著提高2。
食品與藥品檢測是另一個重要應用領域。通過光譜分析技術檢測食品和藥品的成分，確保其符合質量標準，如檢測食品中的添加劑、農藥殘留、營養成分等。
環境監測領域也可使用這款儀器。通過光學傳感器監測大氣中的污染物，如二氧化硫、氮氧化物等，為環境治理提供數據支持。
研究與開發領域是EX-851的另一個用武之地?？蒲袡C構利用其高精度測量能力進行材料科學研究，分析材料的成分、結構和光學性質。
DENSOKU EX-851熒光X射線膜厚儀集成了多項先進技術，提供了出色的測量性能和用戶體驗。
自動對焦功能是EX-851的一大亮點。只需將測量單元對準激光指示器的位置并關上門，儀器便會自動移動至測量值并執行測量。測量完成后，打開門，載物臺會自動返回原位，大大簡化了操作流程。
雙重過濾器系統確保了測量精度。通過使用除數值濾波器以外的機械濾波器（雙重濾波器），儀器能夠在最佳條件下進行測量，始終獲得高的精度。
靈活的準直儀配置滿足了不同測量需求。儀器內置5種準直儀，最小準直儀為0.1φmm，可以測量極小的零件。標準配置包括0.1、0.2、0.5、1.0、2.0φmm準直儀，還有兩種特殊規格可選。
強大的數據處理和報告功能提高了工作效率。通過采用MS-Windows軟件，用戶可以輕松捕獲測量屏幕，增強了報告創建功能。多任務功能允許即使在測量過程中也能進行包括報告創建在內的其他處理。
先進的自診斷和維護功能確保了設備長期穩定運行。自診斷功能可以迅速識別和解決設備故障，還有顯示X射線管使用時間和使用壽命的功能，以支持維護安全。
選配Be窗口X射線管進一步提升了性能。對于鉻（Cr）和鎳（Ni）的測量，重復測量精度顯著提高：Cr的重復性提高了約3倍，Ni的重復性提高了約2倍。測量兩層結構時，中間層中Ni的測量精度提高了約20%。
快速測量和分析能力節省了寶貴時間。多通道光譜分析高速處理使顯示被測物的光譜變得容易，處理速度僅約2-3秒。
直觀的結果展示方式便于數據分析。三維圖形顯示可輕松查看測量對象的鍍層厚度分布，提供了更直觀的數據展示方式。
DENSOKU EX-851不僅測量性能出色，其硬件設計也充分考慮了工業環境的需求。
儀器測量臺尺寸為200 x 200 mm，運動量為X軸200mm、Y軸200mm、Z軸90mm，能夠測量高度最大90mm的樣品。 整體尺寸為740（W）x 530（D）x 660（H）mm（不包括突起部分），重量約為85kg。
安全性能方面，EX-851配備了X射線電源鑰匙開關和故障安全功能，確保了操作過程中的安全性。
EX-851融合了高精度測量與高效工作流程，無論是半導體芯片上的超薄涂層還是汽車零部件上的厚鍍層，它都能提供準確可靠的數據支持。
隨著工業技術不斷發展，對測量精度和效率的要求將越來越高，DENSOKU EX-851這樣的高性能測量儀器將在質量控制和工藝優化中發揮更加關鍵的作用。
